
IGBT裸片作为功率模块的核心组件,其性能直接影响整个电力转换系统的效率与可靠性。而Trench Gate IGBT技术正是实现这一性能跃升的关键驱动力。
在封装前,必须对IGBT裸片进行多项测试:
• 静态特性测试: 测量饱和电压(Vce(sat))、栅极阈值电压(Vth);
• 动态特性测试: 分析开关时间、关断损耗(Eoff)、开通损耗(Eon);
• 可靠性测试: 包括高温反偏(HTRB)、温度循环(TC)等,评估长期稳定性。
随着智能电网与碳中和目标推进,IGBT裸片将不再仅是单一器件,而是向“智能功率模块”演进。未来的趋势包括:
• 将驱动电路与裸片集成于同一基板(如IGBT + Driver in one chip);
• 利用Trench Gate技术实现更精细的电场调控,减少电磁干扰(EMI);
• 推动国产化替代,提升供应链安全。
由此可见,Trench Gate IGBT技术不仅是制造工艺的革新,更是连接半导体材料、封装技术与系统应用的桥梁,正在重塑现代电力电子产业格局。
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